?產(chan)品介(jie)紹

TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飛行時間)二次離子質譜儀是超靈敏的表面分析技術，可檢測表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氫都可以用飛行時間二次離子質譜分析。由初級脈沖離子束轟擊樣品表面所產生的二次離子，經飛行時間分析器分析二次離子的荷質比，從而得知樣品表面信息。

PHI nanoTOF II^TM飛行時間質譜儀是第五代SIMS儀(yi)器(qi)，該儀(yi)器(qi)具有(you)*的飛行時間（TOF）分(fen)析儀(yi)，它(ta)擁有市場(chang)上TOF-SIMS儀(yi)器中大的角度和(he)(he)能(neng)量接(jie)收范(fan)圍(wei)，它(ta)使用了具有優良離子傳輸能(neng)力(li)的三級聚(ju)焦半球形靜(jing)電分(fen)析器，實現了高空(kong)間分(fen)辨(bian)率和(he)(he)質量分(fen)辨(bian)率。PHI nanoTOF II^TM還(huan)具有(you)很高的成像能力(li)，可以表征(zheng)形貌復雜的樣品而沒(mei)有(you)陰影效應。

?飛行時間質譜儀-特點：

  1、立體收集角度大和深景深

  2、同時實現高空間及高能量分辨模式

  3、視野范圍小可至5微米

  4、低背景和亞穩抑制

  5、多種離子槍選配實現高精度深度剖析

  6、FIB-TOF三維深度分布成像

  7、串聯質譜MS/MS （有機高分子材料分析*附件）

  8、SmartSoft^TM-TOF配合WinCadence軟件易于操作

  9、多樣化的樣品托

?nanoTOF II儀器規格：

Bi 作(zuo)為一(yi)次離子源時：

  1、低質量(liang)數質量(liang)分(fen)辨率（m/Δm）：硅（28Si⁺和28SiH⁺）在12000以上

  2、高質量數質量分辨率（m/Δm）：m/z > 200，在 16,000以上

  3、有機材料的質量分辨率（m/Δm）：PET（104 amu）在12000以上

  4、小離子束直徑：70納(na)米（高空間分辨(bian)(bian)率模(mo)式(shi)）、0.5μm（高質量分辨(bian)(bian)率模(mo)式(shi)）

?nanoTOF II選(xuan)配

串(chuan)聯質譜MS/MS、氬氣團簇離(li)子槍(qiang)、C60離(li)子槍(qiang)、銫離(li)子槍(qiang)、氬／氧(yang)離(li)子濺射(she)槍(qiang)、樣品冷卻(que)/加熱系(xi)統、樣品高溫加熱系(xi)統、真空轉移裝置、氧(yang)噴射(she)系(xi)統、Zalar高速(su)旋轉系(xi)統、聚焦離(li)子束FIB（Focused Ion Beam）、前處(chu)理室、各種樣品托、離(li)線數據處(chu)理系(xi)統、Static SIMS Library等。