便攜式現場PID測試儀（電(dian)位誘發(fa)衰減(jian)）測試儀，適用于不同類型和尺寸的(de)晶體(ti)硅組件，無(wu)需拆(chai)裝，測試時(shi)(shi)間(jian)在8小時(shi)(shi)之內（測量時(shi)(shi)間(jian)將少于8小時(shi)(shi)）。PIDcheck是與(yu)德國Fraunhofer CSP Halle合作(zuo)開(kai)發(fa)的(de)。
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