德國(guo)Freiberg Instruments的(de)(de)(de)MDPicts(MDP微(wei)波探測(ce)光誘導(dao)電流瞬(shun)態(tai)譜儀--少子壽命(ming)),非接觸且無損傷,用(yong)于溫度依賴的(de)(de)(de)少數載流子壽命(ming)測(ce)量以及半導(dao)體(ti)的(de)(de)(de)界面陷阱和體(ti)陷阱能(neng)級的(de)(de)(de)電性能(neng)表征。MDpicts將在半導(dao)體(ti)材料的(de)(de)(de)基(ji)礎(chu)研究與開發領域取得(de)廣泛的(de)(de)(de)應用(yong)。
臺(tai)式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導(dao)退化測試儀,用(yong)于c-Si太陽能(neng)電(dian)池和(he)(he)光伏迷你組件的(de)售前和(he)(he)安(an)裝后質量(liang)檢測。
晶(jing)圓片晶(jing)錠壽命(ming)檢測(ce)儀(yi)用于常規質量控制(zhi)、精密材料研發的單晶(jing)和(he)多晶(jing)片及晶(jing)錠的壽命(ming)測(ce)量
靈活的(de)OEM設備,用于(yu)多種不(bu)同樣(yang)品的(de)在線壽命(ming)測量:從單晶(jing)硅到多晶(jing)硅錠,從生成態晶(jing)圓(yuan)片到不(bu)同鍍層(ceng)或金屬化晶(jing)圓(yuan)的(de)過程控制。標(biao)準(zhun)軟件接口,易(yi)于(yu)連(lian)接到許(xu)多處理或自動化系統。
晶圓片在(zai)線面(mian)掃(sao)檢(jian)測儀(yi)是一種用于快速(su)定量(liang)測量(liang)載流子(zi)壽命并集成掃(sao)描(miao)功能的(de)檢(jian)測儀(yi)。通過工(gong)廠安裝的(de)傳送帶將(jiang)晶圓片移(yi)至(zhi)儀(yi)器,在(zai)不到(dao)一秒(miao)的(de)時間內,就可以“動態”測量(liang)出晶圓圖。
掃一掃 微(wei)信咨詢
©2024 束蘊儀器(上海)有限公司版權所有 備案號: 技術支持: 網站地圖 總訪問(wen)量(liang):100925